液晶55寸拼接屏显示单元缺陷自动检测方法的研究
随着社会经济的快速发展和人们生活质量的提高，市场上对液晶55寸拼接屏的需求逐渐扩大，液晶显示屏的生产行业呈现出系统化与趋势化的发展方向。液晶显示单元的缺陷检测工作作为生产过程中关键环节之一，正处于由人工检测向自动化检测的过渡阶段。本文针对液晶显示屏缺陷自动检测方法进行研究，旨在提高自动检测的质量，促进液晶显示屏制造行业的快速发展。
一、液晶显示单元缺陷分类
液晶55寸拼接屏显示单元的生产流程包括镀膜、显影、组合面板、安装芯片等程序，复杂、漫长的制作工序容易导致缺陷的产生。在一般情况下，生产企业会将液晶55寸拼接屏显示单元的检测分为两类，一类是表面的外观性检测，另一方面是功能性的检测。其中，表面外观性检测可以通过使用机器视觉系统来实现，根据不同的检测原则能够进行不同的分类，从尺寸上可以分为围观缺陷和宏观缺陷，从形状上可以分为点缺陷、线缺陷和mura缺陷三种类型。
二液晶显示单元点、线缺陷检测
在液晶55寸拼接屏显示单元生产过程中，点、线缺陷是两种发生率最高的缺陷，虽然它们的缺陷类型不同，但它们的亮度和对比度特征是相同的，因此企业一般使用相同的图像分割技术与轮廓检测技术对它们进行缺陷检测。由于图像是一种能够进行复杂变化的表现形式，不同人对相同图像的关注点也不同，因此在图像分割方面有基于阈值、区域、边缘等不同因素的分割算法，根据实际情况选择不同算法来进行缺陷检测。首先要进行图像预处理，由于受到采集条件与周围环境的影响，包括摄像头采光和信息数据传输等，采集到的实际图像并无法直接用来研究，而是要进行一系列的预处理工序，把图像变成算法的标准化输入，尽量避免受到其他因素影响。图像的预处理结果好坏直接影响着算法的应用情况，与缺陷检测结果具有紧密联系。在显示系统中，由于液晶55寸拼接屏显示单元的某些缺陷只体现在几个像素点上，所以不能使用去噪平滑处理，否则会削弱缺陷像素点的特征，影响检测结果。因此检测系统在进行检测时一般会选择简单的阈值分割计算方法，保证检测工序的效率和质量。
三、液晶显示单元mura缺陷检测
在进行mura缺陷检测之前，肉眼会先进行整体性的观察，但人类难以检测出高分辨率原图中的mura缺陷，因此要先缩放图像，降低图像的液晶纹理对检测结果的干扰，还可以通过图像重建的方式来进行背景模拟，直接消除图像中的细节差异和亮度不均匀现象，便于不同类型mura缺陷的检测。液晶55寸拼接屏显示单元在生产过程中会被贴上标签，来标记产品是否已经通过了上一道检测程序，而在自动检测过程中，液晶显示单元和标签会被拍摄下来，给检测结果带来不利影响。一方面，标签符合缺陷定义，所以会被检测系统识别成为缺陷；另一方面由于部分mura缺陷检测方法是以背景重建为基础，在重建以后标签的影响会继续衍生，所以操作人员必须要在进行自动检测之前对标签进行精确定位，消除它的影响。标签本身的尺寸和形状不会发生改变，因此可以用模板匹配法来进行检测。在不同液晶55寸拼接屏显示单元上，标签的灰度值是不同的，且标签自身的灰度分布也具有不均匀性，因此应该先对标签模板进行平滑均值，避免随机噪声产生的影响，还可以使用误差控制阙值法来加速匹配，进行模板消除和结果检测，降低标签的影响。液晶55寸拼接屏显示单元的缺陷类型有很多，mura缺陷属于发生概率较小的一种缺陷，但它经常会集中出现在某一批液晶产品中，导致这一批次的液晶屏具有更高的缺陷率，对企业造成无法挽回的损失。因此必须加强对mura缺陷椅测的重视，通过使用以图像重建为基础的检测算法对mura缺陷进行自动检测，提高检测质量，保障产品的使用性能。
四、结束语
液晶55寸拼接屏显示单元的缺陷检测工作是产品质量的重要保障之一，在生产流程的每个环节中都要进行缺陷检测，而目前使用的人工检测成本高，效率低，难以适应时代发展的趋势。因此企业必须加大对液晶55寸拼接屏显示单元自动检测技术的研究，提高检测技术和检测质量，降低生产成本，促进企业自动化设备的发展和经济效益的提高。
